0.0 0 оценок
0 оценка пользователей

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Рецензии 0

Этот сайт использует cookies для улучшения качества обслуживания. Мы используем cookies, чтобы обеспечить лучшее взаимодействие.